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xrd測試主要測什么（xrd圖譜怎么分析）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-21 20:57:08 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 94

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本文目錄:

1、EDS及XRD的區(qū)別有哪些內(nèi)容？
2、XRD主要作用于什么實(shí)驗(yàn)，有什么作用
3、XRD測試技術(shù)的原理,用途以及如何制樣?
4、XRD能測分子量嗎？

xrd測試主要測什么（xrd圖譜怎么分析）

一、EDS及XRD的區(qū)別有哪些內(nèi)容？

1、EDS是針對(duì)一些元素的含量進(jìn)行測試，XRD是測試晶體結(jié)構(gòu)的。x0dx0a2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃描電子顯微鏡或透射電鏡相連的設(shè)備。在微米或納米尺度上對(duì)掃描電鏡或透射電鏡內(nèi)通過電子碰撞所產(chǎn)生的X射線的能量進(jìn)行測量來確定物質(zhì)化學(xué)成分。分析范圍：4-100號(hào)元素定性定量分析。 x0dx0a特點(diǎn)：x0dx0a（1）能快速、同時(shí)對(duì)各種試樣的微區(qū)內(nèi)Be-U的所有元素，元素定性、定量分析，幾分鐘即可完成。x0dx0a（2）對(duì)試樣與探測器的幾何位置要求低：對(duì)W.D的要求不是很嚴(yán)格；可以在低倍率下獲得X射線掃描、面分布結(jié)果。x0dx0a（3）能譜所需探針電流?。簩?duì)電子束照射后易損傷的試樣，例如生物試樣、快離子導(dǎo)體試樣、玻璃等損傷小。x0dx0a（4）檢測限一般為0.1%－0.5%，中等原子序數(shù)的無重疊峰主元素的定量相誤差約為2%。x0dx0a3、XRD，X射線衍射是測定晶體結(jié)構(gòu)的。X射線衍射，通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，分析材料的成分等。

二、XRD主要作用于什么實(shí)驗(yàn)，有什么作用

XRD主要用于物質(zhì)內(nèi)的礦物成分及晶向結(jié)構(gòu)分析。我使用XRD主要是用于分析物質(zhì)是否為無定形態(tài)結(jié)構(gòu)

三、XRD測試技術(shù)的原理,用途以及如何制樣?

XRD的測試原理，是Bragg方程，即nλ=2*d*sinθ，其中λ為入射線波長，d為晶面間距，θ為衍射角。

換言之，XRD對(duì)于晶體結(jié)構(gòu)的測試才是有效的。因?yàn)榫w都會(huì)存在其特有的結(jié)晶學(xué)特征，也就是空間點(diǎn)陣，14種Bravais格子代表了其晶格類型，晶面參數(shù)又限定了其節(jié)點(diǎn)間的相對(duì)數(shù)量關(guān)系。

xrd測試主要測什么（xrd圖譜怎么分析）

于是，參考Bragg方程，讓X射線通過晶體，只要滿足Bragg衍射條件，便能提供晶體內(nèi)原子排布的信息。所以，不管是采用德拜照相法、衍射儀法等，都會(huì)在θ角觀測到衍射。

當(dāng)然，也可以說XRD的基礎(chǔ)是Laue衍射條件，但其實(shí)它和Bragg衍射條件本質(zhì)是一致的，只是表達(dá)不同。

用途以及制樣

MTEST系列原位測試儀簡介及介紹：原位測試（微觀力學(xué)測試+可視化監(jiān)測）：在納米尺度下對(duì)試件材料進(jìn)行力學(xué)性能測試。

可兼容集成掃描電子顯微鏡（SEM）、X射線衍射儀（XRD）、Raman光譜儀、原子力顯微鏡（AFM）、圖像控制器（CCD）。

金相顯微鏡等成像設(shè)備對(duì)材料發(fā)生的微觀變形損傷進(jìn)行全程動(dòng)態(tài)監(jiān)測的一種力學(xué)測試技術(shù)，深入的揭示了各類材料及其制品的微觀。

該課題研究項(xiàng)目中所建立的改型鈦白粉的表征方法主要包括X射線衍射技術(shù)(XRD)(XRD)、掃描電子顯微分析(SEM)、電子能譜(EDS)、紅外光譜(FTIR)四種測試手段。

并對(duì)每種測試手段在不同改性技術(shù)上的表征應(yīng)用進(jìn)行了分析，對(duì)工廠和企業(yè)在對(duì)改型鈦白粉的鑒別上具有較強(qiáng)的理論指導(dǎo)和實(shí)用意義，已在江蘇部分鈦白粉生產(chǎn)企業(yè)中進(jìn)行了推廣應(yīng)用。

四、XRD能測分子量嗎？

你好！

這個(gè)問題這樣回答！

假如譜庫中，有你物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)卡片就可以得出分子量！否則就不可以！

XRD不能用來測試分子量的！

XRD的主要用途是測定粉末物相定性，定量。測定晶體結(jié)構(gòu)等等。

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