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sem放大倍數(shù)（sem放大倍數(shù)怎么看）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 02:30:45 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 110

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于sem放大倍數(shù)的問(wèn)題，以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

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本文目錄:

1、SEM掃描電鏡圖怎么看，圖上各參數(shù)都代表什么意思
2、烏燈絲掃描電鏡提高倍數(shù)
3、掃描電鏡放大倍數(shù)的實(shí)質(zhì)是什么?為什么樣品上同一個(gè)點(diǎn)高倍聚焦后從低倍到高倍
4、蔡司掃描電鏡的數(shù)據(jù)區(qū)如何調(diào)出放大倍數(shù)

sem放大倍數(shù)（sem放大倍數(shù)怎么看）

一、SEM掃描電鏡圖怎么看，圖上各參數(shù)都代表什么意思

1、放大率：

與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過(guò)控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無(wú)關(guān)。

2、場(chǎng)深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點(diǎn)都可以得到良好的會(huì)焦而成象。這一小層的厚度稱為場(chǎng)深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用于納米級(jí)樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發(fā)生作用，它實(shí)際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用，所以存在一個(gè)作用“體積”。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點(diǎn)的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場(chǎng)深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級(jí)電子和背散射電子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次級(jí)電子。

6、表面分析：

歐革電子、特征X射線、背散射電子的產(chǎn)生過(guò)程均與樣品原子性質(zhì)有關(guān)，所以可以用于成分分析。但由于電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見(jiàn)作用體積），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射線分析最常用，所用到的探測(cè)器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，后者非常精確，可以檢測(cè)到“痕跡元素”的存在但耗時(shí)太長(zhǎng)。

觀察方法：

如果圖像是規(guī)則的（具螺旋對(duì)稱的活體高分子物質(zhì)或結(jié)晶），則將電鏡像放在光衍射計(jì)上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過(guò)濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會(huì)得到背景干擾少的鮮明圖像。

sem放大倍數(shù)（sem放大倍數(shù)怎么看）

擴(kuò)展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴(yán)重的電鏡照片中找出真實(shí)圖像的方法。在電鏡照片中，有時(shí)因?yàn)楸尘案蓴_嚴(yán)重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數(shù)學(xué)的傅立葉變換關(guān)系，所以將電鏡像用光度計(jì)掃描，使各點(diǎn)的濃淡數(shù)值化，將之進(jìn)行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強(qiáng)度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強(qiáng)度所得的振幅組合起來(lái)進(jìn)行傅立葉變換，則會(huì)得到更鮮明的圖像。此法對(duì)屬于活體膜之一的紫膜等一些由二維結(jié)晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過(guò)對(duì)這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測(cè)試試樣表面形貌的觀察。

參考資料：百度百科-掃描電子顯微鏡

二、烏燈絲掃描電鏡提高倍數(shù)

烏燈絲掃描電鏡提高倍數(shù)是20000倍。根據(jù)查詢相關(guān)資料信息，標(biāo)準(zhǔn)版掃描電鏡SEM3000是一款使用鎢燈絲的高性價(jià)比掃描電子顯微鏡，觀察亞微米級(jí)的微觀結(jié)構(gòu)，放大倍數(shù)可達(dá)20000倍。

三、掃描電鏡放大倍數(shù)的實(shí)質(zhì)是什么?為什么樣品上同一個(gè)點(diǎn)高倍聚焦后從低倍到高倍

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掃描電子顯微鏡的原理掃描電子顯微鏡的性能參數(shù)和意義

溫暖·生活家

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摘要：掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。那么你知道掃描電子顯微鏡的原理是什么嗎？掃描電鏡由電子槍發(fā)射出電子束，在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑為5nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)電子。這些信號(hào)電子經(jīng)探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換為光子，再經(jīng)過(guò)電信號(hào)放大器加以放大處理，最終成像在顯示系統(tǒng)上。下面一起來(lái)看下掃描電子顯微鏡的其他知識(shí)。

一、掃描電子顯微鏡的原理

掃描電鏡由電子槍發(fā)射出電子束(直徑約50um)，在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑為5 nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)電子。這些信號(hào)電子經(jīng)探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換為光子，再經(jīng)過(guò)電信號(hào)放大器加以放大處理，最終成像在顯示系統(tǒng)上。

試樣可為塊狀或粉末顆粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下，于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序做柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產(chǎn)生二次電子發(fā)射(以及其他物理信號(hào))，二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，可得到反應(yīng)試樣表面形貌的二次電子像。

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二、掃描電子顯微鏡的主要性能參數(shù)及意義

1、放大率

與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過(guò)控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。所以，SEM中，透鏡與放大率無(wú)關(guān)。

2、場(chǎng)深

3、作用體積

電子束不僅僅與樣品表層原子發(fā)生作用，它實(shí)際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用，所以存在一個(gè)作用“體積”。

作用體積的厚度因信號(hào)的不同而不同：

歐革電子：0.5～2納米。

次級(jí)電子：5λ，對(duì)于導(dǎo)體，λ=1納米；對(duì)于絕緣體，λ=10納米。

背散射電子：10倍于次級(jí)電子。

特征X射線：微米級(jí)。

X射線連續(xù)譜：略大于特征X射線，也在微米級(jí)。

4、工作距離

工作距離指從物鏡到樣品最高點(diǎn)的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場(chǎng)深。

如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。

通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象

次級(jí)電子和背散射電子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次級(jí)電子。

6、表面分析

四、蔡司掃描電鏡的數(shù)據(jù)區(qū)如何調(diào)出放大倍數(shù)

Mini-SEM是具有高清度，高放大率，高性能的臺(tái)式掃描電子顯微鏡。

現(xiàn)代的電子顯微鏡一般有一個(gè)控制臺(tái)，集成有放大旋鈕（包括粗調(diào)和微調(diào)），一定范圍內(nèi)可以連續(xù)放大，另外有位移搖桿、亮度、對(duì)比度旋鈕等等，當(dāng)然也可以通過(guò)電腦軟件的放大縮小按鈕來(lái)調(diào)節(jié)倍數(shù)。

以上就是關(guān)于sem放大倍數(shù)相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問(wèn)題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢，客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。