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投AFM期刊仲裁

發(fā)布時間：2023-04-13 20:30:40 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 59

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本文目錄:

1、afm影響因子是什么？
2、afm和small哪個好
3、國際上材料領域比較權威的雜志有哪些，AFM，AM全稱是什么？
4、AFM參考文獻的格式

投AFM期刊仲裁

一、afm影響因子是什么？

如下：

1、ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS，AFM ，影響因子11.38。

2、Advanced Materials，AM，影響因子18.96。

影響因子，即某期刊（S, T）發(fā)表的論文在統(tǒng)計當年（U）的被引用總次數(shù)X（總被引次數(shù)）除以該期刊在（S, T）內(nèi)發(fā)表的論文總數(shù)Y。

投AFM期刊仲裁

AFM優(yōu)勢

原子力顯微鏡的出現(xiàn)無疑為納米科技的發(fā)展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態(tài)信息。

與常規(guī)顯微鏡比較，原子力顯微鏡的優(yōu)點是在大氣條件下，以高倍率觀察樣品表面，可用于幾乎所有樣品（對表面光潔度有一定要求），而不需要進行其他制樣處理，就可以得到樣品表面的三維形貌圖象。

二、afm和small哪個好

afm比較好。

無論權威性、受眾范圍、投稿難度，afm都比small好一些。

三、國際上材料領域比較權威的雜志有哪些，AFM，AM全稱是什么？

學光雜志，AFM全稱Atomic Force Microscope，AM全稱為：Advanced Materials。

AFM即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。

現(xiàn)已廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中。

Advanced Materials是工程與計算大學科、材料與化學大領域（包含材料化學，材料物理，生物材料，納米材料，光電材料，金屬材料，無機非金屬材料，電子材料等等非常多的子學科，以及非常大量與材料相關的研究領域）的頂尖期刊，在國際材料領域科研界上享譽盛名。

其他：

AFM優(yōu)點：

投AFM期刊仲裁

AFM原理：

當原子間距離減小到一定程度以后，原子間的作用力將迅速上升。因此，由顯微探針受力的大小就可以直接換算出樣品表面的高度，從而獲得樣品表面形貌的信息。

以上內(nèi)容參考：Advanced Materials-百度百科

四、AFM參考文獻的格式

“參考文獻”四個大字，用3號字體大小，黑體。2、中文參考文獻內(nèi)容，用五號字體大小，宋體3、英語參考文獻內(nèi)容，用TimesNewRoman字體，五號字體大小4、參考文獻中的標點符號：以英文半角符號書寫（逗號、句號、冒號后空一個字符）5、參考文獻中的字母、數(shù)字：TimesNewRoman字體

參考文獻標準格式是指為了撰寫論文而引用已經(jīng)發(fā)表的文獻的格式,根據(jù)參考資料類型可分為專著,會議論文集,報紙文章,期刊文章,學位論文,報紙,標準,專利。

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